Электронный каталог Фундаментальной
библиотеки ФГБОУ ВО МГППУ

👓
eng|rus
Фундаментальная библиотека Московского
государственного психолого-педагогического
университета

Адрес: г. Москва, ул. Сретенка, д. 29
Телефон: 8 (495) 607-23-40
Часы работы: пн-пт — 9:00—20:00; сб — 10:00—18:00
bib_logo

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
      • Список дисциплин

    • Помощь

    Личный кабинет :


    Электронный каталог: Жердева, М. В. - Закономерности развития термоупругих мартенситных превращение под нагрузкой в состаренный высокон...

    Жердева, М. В. - Закономерности развития термоупругих мартенситных превращение под нагрузкой в состаренный высокон...

    Нет экз.
    Электронный ресурс
    Автор: Жердева, М. В.
    Закономерности развития термоупругих мартенситных превращение под нагрузкой в состаренный высокон... : студенческая научная работа
    Издательство: [Б. и.], 2020 г.
    ISBN отсутствует

    полный текст

    На полку На полку


    Электронный ресурс

    Жердева, М. В.
    Закономерности развития термоупругих мартенситных превращение под нагрузкой в состаренный высоконикелевых монокристаллах TiNi : студенческая научная работа / Национальный исследовательский Томский государственный университет (НИ ТГУ). – Томск : [Б. и.], 2020. – 52 с. : ил., табл. – URL: https://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=618447. – Режим доступа: электронная библиотечная система «Университетская библиотека ONLINE», требуется авторизация . – Библиогр. в кн . – На рус. яз.

    В работе установлена закономерность развития ЭПФ и СЭ в высоконикелевых [001]-монокристаллах Ti-51,5(ат. %)Ni в зависимости от числа вариантов дисперсных частиц Ti3Ni4 и выяснена термомеханическая стабильность ЭПФ к высокотемпературным испытаниям. В процессе работы были использованы следующие методы исследований: механические испытания на сжатие, оптическая металлография, калиромитерические исследования, определение температурной зависимости электросопротивления, просвечивающая электронная микроскопия.


    © Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.159