Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Терехов, В. В. - Методы компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микросистем...
Терехов, В. В. - Методы компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микросистем...
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Терехов, В. В.
Методы компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микросистем... : студенческая научная работа
Издательство: [Б. и.], 2019 г.
ISBN отсутствует
Автор: Терехов, В. В.
Методы компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микросистем... : студенческая научная работа
Издательство: [Б. и.], 2019 г.
ISBN отсутствует
На полку
Электронный ресурс
Терехов, В. В.
Методы компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микросистем при спецвоздействияx : студенческая научная работа / Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана ; Факультет информатики и системы управления ; Кафедра проектирования и технологии производства электронной аппаратуры. – Москва : [Б. и.], 2019. – 65 с. : ил., табл. – URL: https://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=578521. – Режим доступа: электронная библиотечная система «Университетская библиотека ONLINE», требуется авторизация . – Библиогр.: с. 65-66. – На рус. яз.
Работа посвящена разработке и исследованию методов компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микро-систем при спецвоздействиях. Проведён аналитический обзор существующих методов моделирования воздействий тяжёлых заряженных частиц на полупроводниковые структуры. Было проведено исследование радиационной стойкости одиночных МЭМС с фрактальной формой. Разработаны алгоритмическое и программное обеспечение для исследования радиационной стойкости распределенных МЭМС с фрактальной формой. Проведено исследование радиационной стойкости распределённых МЭМС с фрактальной формой. В заключении сделаны выводы о преимуществах использования МЭМС с фрактальной формой.
Терехов, В. В.
Методы компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микросистем при спецвоздействияx : студенческая научная работа / Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана ; Факультет информатики и системы управления ; Кафедра проектирования и технологии производства электронной аппаратуры. – Москва : [Б. и.], 2019. – 65 с. : ил., табл. – URL: https://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=578521. – Режим доступа: электронная библиотечная система «Университетская библиотека ONLINE», требуется авторизация . – Библиогр.: с. 65-66. – На рус. яз.
Работа посвящена разработке и исследованию методов компьютерного моделирования характеристик полупроводниковых электростатических микро-систем при спецвоздействиях. Проведён аналитический обзор существующих методов моделирования воздействий тяжёлых заряженных частиц на полупроводниковые структуры. Было проведено исследование радиационной стойкости одиночных МЭМС с фрактальной формой. Разработаны алгоритмическое и программное обеспечение для исследования радиационной стойкости распределенных МЭМС с фрактальной формой. Проведено исследование радиационной стойкости распределённых МЭМС с фрактальной формой. В заключении сделаны выводы о преимуществах использования МЭМС с фрактальной формой.